（準備中…）
電解放出型電子線プローブマイクロアナライザー（FE-EPMA）
細く絞った電子線を試料に照射し、試料表面から生じる特性Ｘ線を計測することで、試料を構成する元素を同定したり、その含有量や分布を調べるための装置です。天然試料や実験回収試料を構成する鉱物や物質の種類を同定したり，その化学的特徴を調べるのに用います。
Xeプラズマ集束イオンビームシステム（pFIB）
細く絞ったXeイオンビームを試料に照射し、大面積の試料の切断研磨加工を行う装置です。各種分析用の試料の断面出しや立体試料加工、透過型電子顕微鏡観察用の薄膜試料加工が行えます。二次電子、反射電子、透過電子検出器を使用して試料観察を行ったり、エネルギー分散型X線分光により試料の化学組成分析を行うこともできます。
全自動多目的X線回折装置（XRD)
粉末化した試料にX線を照射し、回折したX線を検出することで、試料を構成する鉱物の種類を同定したり、結晶格子の情報を引き出すことのできる装置です。天然（野外）で採取した岩石・鉱物試料や実験室での合成実験より回収した試料の特徴を調べるのに用います。
顕微レーザーラマン分光装置
レーザーを試料に照射して得られるラマン散乱光を測定することで，物質を構成する分子の構造や結合状態などを調べることができます。それらの情報を元に鉱物を同定したり，最近では揮発性成分の定量やナノスケール鉱物の存在の確認などに応用されています。
ガスクロマトグラフ質量分析計 (GC-GC-MS)
複数の分子を含む試料を気化させ、固定相に対する気体の分配係数の差を利用して成分を分離し、質量分析計で分子の質量を測定することで、分子を同定します。隕石に含まれる有機分子の同定を行っています。
液体クロマトグラフ質量分析計 (LC-MSMS)
複数の分子を含む試料を注入し、固定相に対する分子の分配係数の差を利用して成分を分離し、２つの質量分離部を備えた質量分析計で分子の質量を測定することで、分子を正確に同定します。隕石に含まれる有機分子や模擬実験で生成する有機分子の同定を行っています。
元素分析-ガスクロマトグラフ-同位体比質量分析計 (EA-GC-c-irMS)
軽元素(C, N, S)を含む固体試料を燃焼させ発生するガスまたは、ガスクロマトグラフで分離した有機物を燃焼させたガスを同位体比質量分析で測定し、軽元素や有機物の分子ごとの安定同位体組成を知ることができます。数十億年前の地層に含まれる生命の記録や、隕石に含まれる有機物の分析を行います。
地球外物質分析専用クリーンルーム
南極から回収された隕石や、サンプルリターンミッションで回収された小惑星試料を扱うためのクリーンルーム。内部ではサンプルのハンドリングや観察の他、反射スペクトルの測定も行っています。
マルチアンビル高圧発生装置
地球内部の高温高圧の環境を実験的に再現することのできる装置で、油圧の力を利用して8個のアンビルを6方向（立方体の6面の方向）から力を加え、アンビルの中心に配置した試料を加圧します。その後、試料近傍に配置した抵抗ヒーターに電気を流して試料を加熱をします。実験から回収される試料は数mm以下と微小ですが、電子顕微鏡を用いて試料の鉱物組み合わせや微細組織、化学組成を調べることができます。また、試料中を伝わる超音波速度を測定することもでき、それらのデータを地球内部を伝わる地震波の速度と比較したりもできます。